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產(chǎn)品中心
品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 |
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Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson
SURTRONIC S116 粗糙度儀
一、S116標(biāo)準(zhǔn)配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準(zhǔn)測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機(jī)構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱
二、技術(shù)參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 :
顯示屏每頁顯示7個(gè)測試結(jié)果,屏幕上可顯示輪廓圖(剖面圖)
可以打印測試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦,分析測試結(jié)果
數(shù)據(jù)存儲:
儀器可以存儲100個(gè)測試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形
儀器支持U盤zui大4G,zui多可存儲39,000個(gè)圖形,每批可存儲10萬個(gè)測試結(jié)果,共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。
電源:
充電器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時(shí)間:4小時(shí)
電池壽命:充電一次可以做2000次測試
待機(jī)時(shí)間:5000小時(shí)
由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測試狀態(tài),zui長時(shí)間不超過1秒I
自動關(guān)機(jī):30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置
Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson
三、技術(shù)指標(biāo):
測量范圍:200 um 100 um 10 um
分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) :1%測試值+底噪
傳感器原:電感
測量力:150-300mg
測針針尖半徑:標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式:滑動掃描
校準(zhǔn):
自動軟件校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn):ISO4287
四、測試參數(shù):
三個(gè)取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個(gè)濾波器:2CR、Gaussian
評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程:17.5mm
測試速度:
測試速度:1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數(shù):
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測量12個(gè)參數(shù): Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測量11個(gè)參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測量14個(gè)參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 :R3z (Daimler Benz)
測試單位:um/uin
五、可選附件
測試平臺:
00級大理石平板:400X250X70mm
有效高度:280mm。
可調(diào)Y軸V型鐵
可調(diào)范圍:±5mm
V型鐵長度100mm
SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進(jìn):
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池;
2、顯示屏為觸摸屏;
3、可以顯示測試圖形;
4、SURTRONIC 25只能測試10個(gè)參數(shù),S116在不同標(biāo)準(zhǔn)下可以測量12、11、14個(gè)參數(shù)(見技術(shù)參數(shù));
5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準(zhǔn)測試結(jié)果,現(xiàn)在改為自動軟件校準(zhǔn)。方便使用;
6、顯示屏顯示的結(jié)果(數(shù)據(jù)和圖形)可以旋轉(zhuǎn),可以方便的從四個(gè)方向觀察測試結(jié)果;
7、儀器底部為V形,測試軸類部件方便可靠;
8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能;
9、可以使用U盤直接存儲,一個(gè)4G容量U盤可存儲3.9萬個(gè)圖形,數(shù)據(jù)可以存儲70批次,每批次為10萬個(gè)測試數(shù)據(jù)。