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產(chǎn)品中心
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀
X射線熒光測量儀,帶有快速可編程的XY平臺和Z軸,可自動測量薄涂層厚度和進行材料分析。在設計上,FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上,使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而,這臺儀器適合于一般材料分析,痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺,因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面。此外,在如引線框架等樣品上進行多點測量,或是在多個不同樣品上進行批量測量,都可以通過快速編程自動化地完成。 X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而,由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計數(shù)器探測器來說),信號強度低,故XDAL有限適用于極微小結構和測量點的測量。和XDLM類似,準直器和基本濾片是可自動切換,以便為不同測量程式創(chuàng)造*佳的激勵條件。
主要特征:
?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
?*高工作條件: 50 kV, 50W
?X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
?準直器:4個,可自動切換,從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
?基本濾片:3個,可自動切換
?測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
?可編程XY平臺
?視頻攝像頭可用來實時查看測量位置,十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺,而測量點實際大小也在圖像中顯示。
?設計獲得許可,防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
應用領域:
?鍍層與合金的材料分析(包括薄鍍層以及低含量)。
?來料檢驗,生產(chǎn)監(jiān)控。
?研發(fā)項目
?電子行業(yè)
?接插件和觸點
?黃金、珠寶及手表行業(yè)
?測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
?痕量分析
?根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
?分析硬質(zhì)鍍層材料
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篤摯儀器-優(yōu)質(zhì)成就價值: 我們經(jīng)營各類物理測量儀器,是世界的正規(guī)代理商和供應商,產(chǎn)品種類齊全,包括各種測量儀器及相關的各種配件,我們的產(chǎn)品覆蓋常見的測量任務。 對于非標準測量,可以使用多種系統(tǒng)附件,以便對整個測量任務進行系統(tǒng)定制。詢價,我們有專業(yè)的技術人員和多年的從業(yè)經(jīng)驗,可以提供根據(jù)您的具體要求為您提供量身定制的測量方案。