泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD

• 更新時間：2020-02-10
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泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD
LuphoScan 260/420 HD測量臺開創(chuàng)了光學(xué)表面高精密計量的新領(lǐng)域。新一代的測量系統(tǒng)能夠測量物件角度大至90° 度，測量精度高于±50 nm （3σ） 。測量結(jié)果有著很高的重復(fù)性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應(yīng)用的理想選擇

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泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD

篤摯儀器對產(chǎn)品，不斷精益求精，提供符合客戶要求的物理表面檢測設(shè)備，客戶產(chǎn)業(yè)遍及石油、電力、鋼鐵、軌道交通、電子、半導(dǎo)體、航空、航天、軍工、實驗室、汽車…等科技產(chǎn)業(yè)，我們以客戶的需求作為思考的出發(fā)點。經(jīng)歷多年來的努力, 公司人員披荊斬棘，以不懈的努力一路走來，人員，技術(shù)，服務(wù)日趨完善。

LuphoScan 260/420 HD測量臺開創(chuàng)了光學(xué)表面高精密計量的新領(lǐng)域。新一代的測量系統(tǒng)能夠測量物件角度大至90° 度，測量精度高于±50 nm (3σ) 。測量結(jié)果有著很高的重復(fù)性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應(yīng)用的理想選擇，是生產(chǎn)過程控制的*基本要求?？蓽y量坡度很高的表面、具有不同間距方向的表面、很小的表面例如手機鏡頭模具。LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(shù)（MWLI®）的干涉式掃描測量系統(tǒng)。 它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設(shè)計， 例如非球面光學(xué)透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測量提供**效益。

        LuphoScan量測平臺是一款利用多波長干涉技術(shù)（MWLI®）的干涉式掃描量測系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀量測而設(shè)計，例如非球面光學(xué)透鏡。LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的量測。該儀器的主要特性包括高速量測、特殊表面的高靈活度量測 (例如；反曲點的輪廓或平坦的尖點), 大物體直徑可達420 mm， 因為采用多波長干涉技術(shù)（MWLI®）傳感器技術(shù)， 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

主要特點：
?    無與*比的測量能力
?    HD = 高分辨率
?    快速的、值得信賴的非球面表面非接觸式三維形狀測量
?    高精度 - 物件坡度高至90° 度
?    是測量大的、陡峭的和很小的非球面鏡頭（如手機鏡頭模具）的理想選擇
?    測量結(jié)果*高的重復(fù)性
?    Power和PV測定參數(shù)的*佳穩(wěn)定性
?    系統(tǒng)噪音很低

?    堅固耐用，不受環(huán)境變化的影響

LuphoScan系統(tǒng)能提供高品質(zhì)光學(xué)表面3D形狀量測的*佳效益：
?    對任何旋轉(zhuǎn)對稱的表面深入分析 - 非球面、球面、平面和自由曲面
?    超高的、可重復(fù)精度 - ≤ ± 50 nm
?    可量測任何材料 - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
?    偏離的大球面 - 不受偏離限制。例如，能夠量測盤式或鷗翼表面，以及彎曲點的輪廓
?    大斜坡量測 - 可達90° (例：半球量測)
?    完整透鏡特征* - 透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置
?    *附加功能

主要應(yīng)用領(lǐng)域：

        LuphoScan測量系統(tǒng)用于測量可旋轉(zhuǎn)的對稱表面的3D拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測量工作臺的設(shè)計能夠確保測量大多數(shù)的透鏡， 而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀（平頭）、傾斜或者發(fā)射點圖的限制。除了標(biāo)準(zhǔn)的測量應(yīng)用外， 還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴展工具LuphoSwap不同擴展功能， 來完成多種光學(xué)要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度， 以及楔形與偏心誤差。 除此之外， 額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡，如分段表面包括矩形部件、環(huán)形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。

篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測儀器設(shè)備有：

    ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀；

    ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量儀；

    ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量儀、千分尺、卡尺；

    ==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測厚儀；

    ==>>德國艾達米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；

    ==>>美國API  XD系列激光干涉儀；

    ==>>美國GE無損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀；

    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測高儀、千分尺、卡尺；

    ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測量機測頭測針、機床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺；

    ==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測量系統(tǒng)；

    ==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測器；

    ==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；

    ==>>TRIMOS測長儀、測高儀、萬能測長機；

    ==>>杭州思看科技三維掃描儀.